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      人工晶狀體半成品測量儀的原理和優(yōu)勢

      更新時間:2018-08-26      點擊次數(shù):3058
       人工晶狀體半成品測量儀的原理:
          設(shè)備包括一套由低摩擦系數(shù)材料制造而成的內(nèi)徑誤差在±0.04mm以下的圓柱孔座和一臺度為0.5度的光學(xué)角度測量儀組成。用于測試人工晶狀體在一個處方直徑內(nèi)的支撐眼組織和接近*接觸狀態(tài)。
          人工晶狀體半成品測量儀按標準提供一套符合要求的EXCEL格式測試報告軟件,其中已經(jīng)嵌入相關(guān)計算公式。*符合YY0290-2008附錄D相關(guān)標準設(shè)計完成。
      人工晶狀體半成品測量儀的優(yōu)勢:
         測量鏡片表面任何區(qū)域的曲率半徑。
         測量散光,軸線及殘余散光。
          干涉條紋可以體現(xiàn)整個表面的光學(xué)特征。
          數(shù)值化和圖形化整個表面的曲率分布。
          對刀分析功能能夠提供加工過程中刀具的各種珍貴信息,如刀具精度,是否對準,是否磨損等。
      人工晶狀體半成品測量儀其他優(yōu)勢:
          可以輕易分辨細微的表面缺陷,即便是某些其他設(shè)備不可見的細節(jié)。
          不需要特殊的防震平臺。
          可測量樣品的整個表面區(qū)域,包括環(huán)形區(qū)域。
      人工晶狀體半成品測量儀的技術(shù)參數(shù):
          測量范圍:3-64mm凸面或凹面
          測量精度:優(yōu)于5微米
          重復(fù)性:優(yōu)于2.5微米
          測量時間:5-8秒(球鏡)
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